連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀
產(chǎn)品名稱: 連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): FT-A200H/FT-A200HR
產(chǎn)品特點(diǎn): 連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀具有高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測(cè)量厚度。提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。重復(fù)性為0.05μm,保證了測(cè)量的一致性。
連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹
連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀
連續(xù)厚度測(cè)量監(jiān)控機(jī)高分辨率薄膜測(cè)試儀
具有高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測(cè)量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復(fù)性為0.05μm,保證了測(cè)量的一致性。
測(cè)量范圍:FT-A200H的測(cè)量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測(cè)量范圍為3μm至100μm。
測(cè)量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進(jìn)行連續(xù)厚度測(cè)量,無(wú)需中斷生產(chǎn)流程,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測(cè)量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復(fù)性為0.05μm,保證了測(cè)量的一致性。
測(cè)量范圍:FT-A200H的測(cè)量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測(cè)量范圍為3μm至100μm。
測(cè)量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進(jìn)行連續(xù)厚度測(cè)量,無(wú)需中斷生產(chǎn)流程,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測(cè)量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復(fù)性為0.05μm,保證了測(cè)量的一致性。
測(cè)量范圍:FT-A200H的測(cè)量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測(cè)量范圍為3μm至100μm。
測(cè)量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進(jìn)行連續(xù)厚度測(cè)量,無(wú)需中斷生產(chǎn)流程,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控厚度變化。
具有高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器,只需放置從生產(chǎn)線上切下的薄膜,即可輕松連續(xù)地測(cè)量厚度。
提供0.01μm的高分辨率,確保能夠捕捉到薄膜厚度的微小變化。
重復(fù)性為0.05μm,保證了測(cè)量的一致性。
測(cè)量范圍:FT-A200H的測(cè)量范圍為10μm至200μm,F(xiàn)T-A200HR的測(cè)量范圍為3μm至100μm。
測(cè)量分辨率為0.01μm,滿足高精度需求。
支持從生產(chǎn)線上直接切取薄膜進(jìn)行連續(xù)厚度測(cè)量,無(wú)需中斷生產(chǎn)流程,實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控厚度變化。