膜厚分布電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng)膜厚分布電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng)
適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。
測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實(shí)現(xiàn)三維圖表輸出的自動(dòng)化。
(基板尺寸最大為650×)可以處理到650毫米。)
[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]を3次元グラフ表示します。
測量位置設(shè)置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。
從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。
從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。
適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。
測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實(shí)現(xiàn)三維圖表輸出的自動(dòng)化。
(基板尺寸最大為650×)可以處理到650毫米。)
[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]を3次元グラフ表示します。
測量位置設(shè)置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。
從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。
從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。
適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。
測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實(shí)現(xiàn)三維圖表輸出的自動(dòng)化。
(基板尺寸最大為650×)可以處理到650毫米。)
[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]を3次元グラフ表示します。
測量位置設(shè)置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。
從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。
從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。
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