膜厚分布電阻率自動測量系統(tǒng)膜厚分布電阻率自動測量系統(tǒng)

適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。

• 測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實現(xiàn)三維圖表輸出的自動化。
  （基板尺寸最大為650×）可以處理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 測量位置設置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。

• 從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。

• 從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。

適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。

• 測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實現(xiàn)三維圖表輸出的自動化。
  （基板尺寸最大為650×）可以處理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 測量位置設置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。

• 從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。

• 從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。

適用于ITO膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布和轉(zhuǎn)印帶電阻率分布的測量。

• 測量?演算?數(shù)據(jù)處理?可以實現(xiàn)三維圖表輸出的自動化。
  （基板尺寸最大為650×）可以處理到650毫米。）

• ［Ω］、［Ω／□］、［Ωｃｍ］、［Ｓ／ｃｍ］を３次元グラフ表示します。

• 測量位置設置可以通過一鍵式網(wǎng)格輸入、逐次輸入三種方式來完成。

• 從研究開發(fā)到生產(chǎn)線抽檢均可廣泛使用。

• 從低電阻率到高電阻率共有兩種類型。