非接觸式電探針電阻測(cè)量?jī)xEC-80P是一種手動(dòng)無(wú)損（渦流法）電阻測(cè)量?jī)x，其特點(diǎn)包括只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻，可以在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換，使用jog撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件。該設(shè)備連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻（電阻探針：多可以使用2 + pn判斷探頭）。測(cè)量規(guī)格包括半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，sic等），新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，dlc，石墨烯，銀納米線等），導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ito等）。非接觸式電探針電阻測(cè)量?jī)xEC-80P是一種手動(dòng)無(wú)損（渦流法）電阻測(cè)量?jī)x，其特點(diǎn)包括只需觸摸手持式探頭即可測(cè)量電阻，可以在電阻/薄層電阻測(cè)量模式之間輕松切換，使用jog撥盤輕松設(shè)置測(cè)量條件。該設(shè)備連接到連接器的可替換電阻測(cè)量探頭可支持多種電阻（電阻探針：多可以使用2 + pn判斷探頭）。測(cè)量規(guī)格包括半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，sic等），新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，dlc，石墨烯，銀納米線等），導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ito等）。